第1章 综述
1.1 集成电路的发展趋势
1.2 集成电路产品创新的三个阶段
第2章 EDA与电子工程产品的开发
2.1 EDA技术的产生与发展
2.2 EDA工程与集成电路设计
2.3 EDA工程中的可靠性设计方法与策略
2.3.1 仿真技术
2.3.2 面向工程目标的可靠性设计方法
2.3.3 电路模型的逻辑综合与优化
2.3.4 设计分析与验证
2.4 电子产品开发中的EDA技术
第3章 工程建模与硬件描述语言
3.1 硬件描述语言基础
3.1.1 硬件描述语言
3.1.2 HDL 模型及特点
3.1.3 HDL模型的层次化设计
3.1.4 HDL模型仿真
3.2 Verilog HDL与工程建模
3.2.1 Verilog模型与功能验证
3.2.2 Verilog HDL的基本要素与定义
3.2.3 Verilog的数据类型与逻辑描述
3.2.4 verilog操作符
3.2.5 结构化建模
3.2.6 模型的延时
3.2.7 行为建模
3.2.8 存储器模型
3.2.9 Verilog中的高级层次化结构
3.2.10 可综合的Verilog模型风格
3.3 模型的验证
3.3.1 Veillog对模型验证的支持
3.3.2 test bench（测试验证程序）
第4章 集成电路与SOC设计
4.1 集成电路的分类
4.1.1 全定制与半定制集成电路
4.1.2 可编程集成电路及FPGA
4.2 集成电路的设计技术与方法
4.2.1 集成电路设计技术的发展历程
4.2.2 集成电路的设计方法与策略
4.3 集成电路设计流程与开发工具
4.3.1 ASIC的设计
4.3.2 SOC的设计
4.3.3 FPGA的设计
4.4 集成电路设计的基本原则、策略与技巧
4.4.1 集成电路设计的关键要点及基本原则
4.4.2 提高设计运行速度、加快数据流处理的策略与技巧
4.4.3 电路运行稳定的策略与技巧
4.5 工程设计中的典型案例解析
4.5.1 大型算法的流水线设计解决方案
4.5.2 团队间远程协作的多模块网表组合设计案例
4.5.3 将矢量坐标转换成平面直角坐标的解决方案
4.5.4 仅对更改部分进行逻辑综合的增量综合技术
4.5.5 LFSR的设计
第5章 设计验证与测试
5.1 芯片开发中的验证技术
5.1.1 验证的方法与策略
5.1.2 平台技术与验证环境
5.1.3 EDA的高级验证方法学与实用工具
5.1.4 sOC的一体化验证流程
5.2 芯片开发中的测试技术
5.2.1 SOC的测试技术与方法
5.2.2 测试激励生成技术
5.2.3 SOC芯片的可测性设计（DFT）技术
5.2.4 SOPC的可测性设计与调试
5.2.5 IP核的联机验证与测试评估
第6章 双通道以太网MAC控制器的设计
6.1 以太网的帧格式
6.2 网络控制器芯片切换的原理
6.3 网络发送模块设计
6.4 接收模块设计
6.5 CRC校验设计
6.6 网络切换模块设计
6.7 时序仿真波形
6.8 设计经验总结
第7章 密码安全芯片的设计
7.1 密码安全芯片的实现方法
7.2 AES算法原理
7.3 AES算法的设计实现
7.3.1 算法的整体设计
7.3.2 总体结构设计
7.3.3 各个子模块设计
7.4 设计经验总结
参考文献
附录 集成电路设计、验证、实现过程中的关键词
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