研究生创新教育系列教材：SOC测试

　　第1章 简介
　　1.1 SOC测试的重要性
　　1.2 SOC测试一些标准
　　1.2.1 边界扫描（IEEEll49.1 ）
　　1.2.2 IEEEll49.6 
　　1.2.3 模拟与混合信号电路边界扫描标准IEEEPll49.4 
　　1.2.4 IEEE Pl500
　　1.2.5 IEEE Pl687
　　参考文献
　　第2章 扫描测试与内建自测试
　　2.1 基本的扫描设计结构
　　2.1.1 基于多路选择器－D触发器的扫描设计
　　2.1.2 带时钟的扫描设计
　　2.1.3 电子敏感扫描设计
　　2.1.4 增强的扫描设计
　　2.2 低功耗扫描设计结构
　　2.2.1 多相或多序低功耗扫描设计
　　2.2.2 通带宽度匹配的低功耗扫描设计
　　2.3 实速扫描设计
　　2.4 逻辑内建自测试
　　2.4.1 测试图形生成电路
　　2.4.2 测试响应压缩
　　2.4.3 逻辑内建自测试结构
　　2.4.4 低功耗BIST结构
　　2.5 实速逻辑BIS了
　　2.5.1 单捕获
　　2.5.2 LOS
　　2.5.3 LOC
　　小结
　　习题
　　参考文献
　　第3章 SOC测试与NOC测试
　　3.1 SOC测试基本问题
　　3.2 测试结构设计与优化
　　3.2.1 测试壳设计与优化
　　3.2.2 TAM设计与优化
　　3.2.3 测试调度
　　3.3 模块化测试
　　3.3.1 模块化测试
　　3.3.2 混合信号SOC的模块化测试
　　3.3.3 层次核的模块化测试
　　3.4 NOC测试
　　3.4.1 NOC结构
　　3.4.2 NOC网络复用
　　3.4.3 采用路由路径的测试调度
　　3.5 设计与测试举例
　　小结
　　习题
　　参考文献
　　第4章 测试压缩
　　4.1 基于编码的压缩
　　4.1.1 字典编码
　　4.1.2 Huffman编码
　　4.1.3 行程编码
　　4.1.4 变长－变长编码
　　4.2 测试激励解压电路
　　4.2.1 线性解压原理
　　4.2.2 组合线性解压器
　　……
　　第5章 延迟测试
　　第6章 低功耗测试
　　第7章 模拟与混合信号测试
　　第8章 射频电路测试
　　第9章 基本软件的自测试
　　附录

　　    《研究生创新教育系列教材：SOC测试》系统化介绍SOC测试方法与结构，主要内容包括SOC测试的原理和标准，扫描测试与内建自测试，软件自测试，测试压缩，低功耗测试，延迟测试，模拟与混合电路测试，RF电路测试，SOC与NOC测试。
　　    本书既可作为高等院校电子与信息、计算机科学与技术和电气工程类高年级学生和研究生的专业课教材，也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用、EDA和ATE专业人员的参考用书。