材料科学与工程学科系列教材：材料组织结构的表征

　　绪论第1篇  金相显微术第1章 金相显微镜的光学基础与构造1.1   光学基础1.1.1  反射和折射定律1.1.2  光的性质和可视性1.1.3  偏振光1.1.4  光的衍射和干涉1.1.5  几何光学1.2   透镜的光学缺陷和设计1.2.1  透镜光学缺陷1.2.2  透镜的设计和特性1.3   照明方式1.3.1  科勒照明1.3.2  明场照明1.3.3  暗场照明1.3.4 新型无限远光学系统1.4   性能参数1.4.1  衍射与分辨率1.4.2  有效放大倍率1.4.3  景深1.4.4 工作距离和视域范围1.5   图像记录和处理及分析1.5.1  显微照相1.5.2  视频显微术1.5.3  数字CCD显微术1.5.4  图像处理与定量分析1.6   金相显微镜的操作1.6.1  光源的调整1.6.2  光阑的调整第2章 金相试样的制备2.1   金相试样的制备步骤2.1.1  取样和镶嵌2.1.2  研磨与抛光2.1.3  浸蚀2.1.4  现代金相样品制备技术概述2.2   常用浸蚀剂显示金相组织举例2.2.1  硝酸酒精浸蚀剂2.2.2  苦味酸浸蚀剂2.2.3  LB染色浸蚀剂2.2.4  Klemm浸蚀剂2.2.5  Ber'aha浸蚀剂2.2.6  Lepera浸蚀剂第3章 相位衬度显微镜3.1   相位衬度显微术原理3.2   相衬显微镜的光学设计3.3   金相显微镜和生物显微镜光学布置的差异第4章 偏振光显微镜4.1   偏振光的反射特征4.2   反射式偏振光显微镜的光学布置和使用4.3   应用举例4.3.1  各向异性组织的显示4.3.2  非金属夹杂物的鉴别4.3.3  复合夹杂物的定性鉴别第5章 微分干涉衬度显微镜5.1   DIC光学系统5.2   DIC图像的形成5.3   DIC图像与其他成像方式图像的比较第6章 共聚焦激光扫描显微镜6.1   共聚焦成像的光学原理6.2   影响共聚焦图像质量因素6.3   共聚焦显微镜的功能和应用第2篇 X射线衍射分析第7章 X射线物理学基础7.1   X射线衍射分析发展简史7.2   X射线本质及其波谱7.2.1  X射线本质7.2.2  X射线谱7.3   X射线与物质相互作用7.3.1  X射线散射7.3.2  X射线真吸收7.3.3  X射线衰减规律7.3.4  X射线吸收效应的应用7.4   X射线防护第8章 x射线衍射方向8.1   晶体几何学8.1.1  晶体结构8.1.2  晶体投影8.1.3  倒易点阵8.2   布拉格方程8.2.1  布拉格方程8.2.2  布拉格方程的讨论8.2.3  倒易空间中的衍射条件8.3   厄瓦尔德图解8.3.1  厄瓦尔德图解8.3.2  厄瓦尔德图解示例第9章 X射线衍射强度9.1   单个晶胞散射强度9.1.1  单个电子散射强度9.1.2  单个原子散射强度9.1.3  单个晶胞散射强度9.2   单个理想小晶体散射强度9.2.1  干涉函数9.2.2  衍射畴9.3   实际多晶体衍射强度9.3.1  实际小晶粒积分衍射强度9.3.2  实际多晶体衍射强度9.3.3  多晶体衍射强度计算方法第10章 X射线衍射方法10.1   相照法10.1.1  德拜一谢乐法10.1.2  聚焦法10.1.3 针孔法10.2   衍射仪法10.2.1  测角仪10.2.2  计数器10.2.3  单色器10.3   测量条件10.3.1  试样要求10.3.2  影响测量结果的因素10.3.3  测量条件示例第11章 多晶物相分析11.1   标准卡片及其索引11.1.1  卡片介绍11.1.2  索引方法11.2   定性物相分析11.2.1  手工检索11.2.2  计算机检索11.2.3  其他问题11.3   定量物相分析11.3.1  基本原理11.3.2  分析方法11.3.3  其他问题第12章 晶体结构与点阵参数分析12.1   晶体结构识别12.1.1  基本原理12.1.2  立方晶系指标化12.1.3  其他问题12.2   点阵参数测定12.2.1  德拜法误差来源12.2.2  衍射仪法误差来源12.2.3  消除系统误差方法12.3   晶体结构模型分析12.3.1  原理与方法12.3.2  其他问题第13章 应力测量与分析13.1   测量原理13.1.1  内应力分类13.1.2  测量原理13.2   测量方法13.2.1  测量方式13.2.2  试样要求13.2.3  测量参数13.3   数据处理方法13.3.1  衍射峰形处理13.3.2  定峰方法13.3.3  误差分析13.4   三维应力及薄膜应力测量13.4.1  三维应力测量13.4.2  薄膜应力测量第14章 衍射谱线形分析14.1   谱线宽化效应及卷积关系14.1.1  几何宽化效应14.1.2  物理宽化效应14.1.3  谱线卷积关系14.2   谱线宽化效应分离14.2.1  强度校正与K。双线分离14.2.2  几何宽化与物理宽化的分离14.2.3  细晶宽化与显微畸变宽化的分离14.3   非晶材料x射线分析14.3.1  径向分布函数14.3.2  结晶度计算14.4   小角X射线散射分析14.4.1  基本原理14.4.2  吉尼叶公式及应用第15章 多晶织构测量和单晶定向15.1   多晶体织构测量15.1.1  织构分类15.1.2  极图及其测量15.1.3  反极图及其测量15.1.4  三维取向分布函数15.2   单晶定向15.2.1  单晶劳厄相的特点15.2.2  单晶定向方法第3篇  电子显微分析第16章 透射电子显微镜的原理和构造16.1   入射电子在固体样品中所激发的信号及其体积16.1.1  激发的信号16.1.2  电子柬激发体积16.2   透射电子显微镜的构造16.2.1  电子波长16.2.2  电子透镜16.3   成像方式和变倍原理16.4   透射电子显微镜的理论分辨本领极限第17章 透射电子显微镜的样品制备17.1   表面复型技术概述17.2   质厚衬度原理17.2.1  单个原子对入射电子的散射17.2.2  质厚衬度成像原理17.3   一级复型与二级复型17.3.1  塑料一级复型17.3.2  碳一级复型17.3.3  塑料一碳二级复型17.4   抽取复型17.5   粉末样品17.6   薄膜样品的制备方法17.6.1  直接制得薄膜样品17.6.2  大块晶体样品制成薄膜的技术17.6.3  聚焦离子束方法第18章 电子衍射和衍衬成像18.1   电子衍射与X射线衍射的比较18.2   衍射产生的条件18.3   电子衍射几何分析公式及相机常数18.4   选区电子衍射的原理及操作18.5   多晶电子衍射花样的标定及其应用18.5.1  多晶衍射花样的产生及几何特征18.5.2  多晶电子衍射花样的主要应用18.6   单晶电子衍射花样的分析18.6.1  单晶电子衍射花样的几何特征和强度18.6.2  单晶电子衍射花样的标定方法18.6.3  单晶电子衍射花样的应用18.7   复杂电子衍射花样的特征和识别18.7.1  高阶劳厄区斑点18.7.2  超点阵斑点18.7.3  孪晶衍射花样18.7.4  二次衍射斑点18.7.5  菊池衍射花样18.8   衍射衬度成像原理及应用18.8.1  透射电子像衬度的分类18.8.2  衍衬成像的方法和原理18.8.3  衍衬运动学理论18.8.4  衍衬成像的应用举例18.8.5  透射电子显微镜动态观察第19章 分析电子显微镜19.1   分析电子显微镜特点19.2   高分辨电子显微术的基本原理19.2.1  电子散射和傅里叶变换19.2.2  高分辨像形成过程描述的两个重要函数19.2.3  谢尔策欠焦19.2.4  弱相位体高分辨像的直接解释19.3   薄膜样品的X射线能谱分析19.3.1  薄样品分析原理19.3.2  薄样品厚度的判据19.3.3  薄样品的空间分辨率19.3.4  薄样品的检测灵敏度19.4   微衍射花样与会聚束电子衍射19.4.1  微衍射花样19.4.2  会聚束电子衍射19.4.3  电子能量损失谱19.4.4  分析电子显微术应用举例19.4.5   分析电子显微镜的进展及其分析新技术简介第20章 扫描电子显微镜20.1   扫描电子显微镜的工作原理和构造20.1.1  工作原理20.1.2  构造20.2   扫描电子显微镜的像衬度原理及其应用20.2.1  表面形貌衬度的原理20.2.2  表面形貌衬度改善的电子减速技术20.2.3  原于序数衬度原理20.2.4  二次电子和背散射电子任意混合的ExB技术20.2.5  扫描透射电子显微术20.3   电子背散射衍射分析及其应用20.3.1  背散射电子衍射工作原理和仪器结构20.3.2  电子背散射花样晶体取向和织构分析原理20.3.3  晶体取向的EBSD测定举例第21章 电子探针X射线显微分析仪21.1   电子探针的分析原理和构造21.1.1  分析原理21.1.2  构造21.2  电子探针的分析方法和应用21.2.1  分析方法21.2.2  定量分析基本原理简介21.2.3  应用思考题与练习题附录参考文献

　　《材料科学与工程学科系列教材：材料组织结构的表征》分为三篇，共21章。其中，第一篇为《金相显微术》，第二篇为《X射线衍射分析》，第三篇为《电子显微分析》。戎咏华和姜传海编著的《材料组织结构的表征》重点介绍三种实验技术的原理、仪器的结构、功能特点和应用，体现了分析技术的新发展，在理论与原理上进行了深入浅出的阐述，以帮助学生和读者对三种分析方法有一个全面的了解和掌握。《材料科学与工程学科系列教材：材料组织结构的表征》既可以作为本科生和研究生教材，也可供从事相关工作的教师和技术人员参考。