现代集成电路测试技术

　　上篇  集成电路测试原理
　　第1章  概述
　　1.1  测试的意义
　　1.2  测试的分类
　　1.3  测试成本与产品质量
　　参考文献
　　第2章  逻辑模拟与故障模拟
　　2.1  电路模型及简单的结构分析
　　2.2  信号状态模型
　　2.3  定时模型
　　2.4  故障模型及故障精简
　　2.5  故障效应的传播
　　2.6  逻辑模拟算法
　　2.7  故障模拟算法
　　2.8  时序电路的逻辑模拟和故障模拟
　　参考文献
　　第3章  可测性度量
　　3.1  可测性度量的基本概念
　　3.2  可测性的度量
　　参考文献
　　第4章  测试生成
　　4.1  测试生成方法分类
　　4.2  测试生成算法中的一些基本概念和技术
　　4.3  单路径敏化法
　　4.4  D-算法
　　4.5  9值算法
　　4.6  PODEM算法
　　4.7  FAN算法
　　4.8  布尔差分法
　　4.9  布尔满足法
　　4.1 0  面向电路的测试生成方法
　　4.1 1  组合ATPG算法研究进展
　　4.1 2  时序电路测试生成
　　4.1 3  高层设计的测试生成
　　4.1 4  测试生成系统
　　参考文献
　　第5章  可测性设计方法和技术
　　5.1  可测性设计的基本概念
　　5.2  专门的可测性设计方法
　　5.3  基于扫描的可测性设计技术
　　5.4  全速测试和全速扫描测试技术
　　5.5  特征分析测试方法简介及内建自测试
　　5.6  边界扫描设计技术一
　　5.7  可测性设计规则综述
　　参考文献
　　第6章  设计验证技术
　　6.1  设计验证技术基本概念
　　6.2  设计的模拟验证
　　6.3  设计的形式验证和断言验证
　　6.4  设计验证辅助功能测试向量的制成
　　6.5  现代数字集成电路芯片设计验证的语言
　　参考文献
　　第7章  测试数据压缩技术
　　7.1  测试数据压缩的缘由、特点和方法概述
　　7.2  Huffman编码
　　7.3  游程编码的方法
　　7.4  Golomb码的数学基础和数据压缩
　　7.5  快速编码的优势和特点
　　7.6  二维压缩编码方法的基本实践
　　7.7  数据压缩的硬件实施方法和措施
　　参考文献
　　第8章  测试开发系统
　　8.1  测试语言
　　8.2  测试程序
　　8.3  测试开发环境
　　8.4  测试转换系统
　　8.5  测试设备脱机开发环境
　　参考文献
　　第9章  混合信号集成电路测试
　　9.1  概况
　　9.2  采样理论
　　9.3  基于DSP的测试
　　9.4  基于模型的测试
　　9.5  DAC测试
　　9.6  ADC测试
　　9.7  混合信号DFT和BIST
　　参考文献
　　第10章  IDDQ测试
　　10.1  IDDQ基本原理
　　10.2  IDDQ测试生成
　　10.3  IDDQ可测性设计
　　10.4  IDDQ监控器设计
　　10.5  △IDDQ测试
　　10.6  深亚微米IDDQ测试
　　10.7  未来方向
　　参考文献
　　第1l章  SOC测试
　　11.1  概况
　　11.2  SOC测试困难
　　11.3  测试访问机制
　　11.4  测试外壳
　　11.5  内核测试
　　11.6  SOC系统测试
　　11.7  测试标准
　　11.8  内核测试语言
　　11.9  未来的挑战
　　参考文献
　　第12章  集成电路测试标准
　　12.1  集成电路相关标准机构
　　12.2  国际集成电路测试标准介绍
　　下篇  集成电路测试设备
　　第13章  集成电路测试系统概述
　　13.1  集成电路测试系统发展概述
　　13.2  集成电路测试系统分类
　　13.3  集成电路测试系统专用集成电路
　　13.4  分布式集成电路测试系统
　　参考文献
　　第14章  集成电路测试验证系统
　　14.1  集成电路测试验证要求和测试验证系统发展
　　14.2  第1代测试验证手段和系统
　　14.3  第2代测试验证系统的构成
　　14.4  第3代测试验证系统的特点
　　14.5  现代测试验证系统的要求和特点
　　参考文献
　　第15章  数字集成电路测试系统
　　15.1  数字集成电路测试系统原理
　　15.2  数字SSI／MSI测试系统
　　15.3  数字LSI／VLSI测试系统
　　参考文献
　　第16章  RAM测试技术和测试系统
　　16.1  RAM的基本组成及结构
　　16.2  RAM测试
　　16.3  RAM测试系统
　　参考文献
　　第17章  模拟集成电路测试系统
　　17.1  模拟电路的测试需求
　　17.2  模拟电路测试系统的系统结构
　　17.3  模拟测试系统仪器构成原理
　　17.4  现代模拟集成电路测试系统
　　参考文献
　　第18章  数模混合信号集成电路测试系统
　　18.1  混合信号电路对测试的需求
　　18.2  混合信号电路测试系统的体系结构
　　18.3  混合信号电路测试系统的同步
　　18.4  混合信号测试的特殊仪器
　　18.5  混合信号电路测试系统
　　第19章  基于标准总线的集成电路测试系统
　　19.1  基于标准总线的集成电路测试系统发展
　　19.2  虚拟仪器
　　19.3  自动测试系统软件体系结构
　　19.4  基于标准总线的通用集成电路测试系统举例
　　参考文献
　　第20章  基于DFT测试仪
　　20.1  传统ATE
　　20.2  DFT测试仪
　　20.3  测试方法
　　20.4  DFT测试应用
　　20.5  DFT测试仪与传统ATE区别
　　20.6  一种边界扫描DFT测试系统--JTAG
　　参考文献
　　第21章  SOC测试系统
　　21.1  SOC测试特性
　　21.2  SOC测试系统特性
　　21.3  SOC测试系统
　　参考文献
　　第22章  集成电路测试系统的计量
　　22.1  量值溯源基础
　　22.2  集成电路测试系统校准与参数溯源的基础原理
　　22.3  集成电路测试系统校准与参数溯源方法介绍
　　22.4  集成电路测试系统国家校准规程
　　参考文献
　　第23章  集成电路测试辅助设备
　　23.1  自动分选机
　　23.2  探针测试台
　　参考文献
　　索引

　　    全书分上下篇，上篇主要介绍了数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准等内容，下篇重点介绍了数字／模拟／数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等内容，并特别关注了以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和基于标准总线集成电路测试系统的发展，《现代集成电路测试技术》可作为从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员，以及准备进入该领域的管理人员的学习和培训教材，也可作为高等院校相关专业师生的教材和参考书。
　　    全书按集成电路测试原理和集成电路测试设备划分为上、下篇。根据现代集成电路测试技术发展和专业测试需求，上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字／模拟／数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统，同时特别关注了以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和基于标准总线集成电路测试系统的发展，并安排了测试系统计量和自动分选机／探针测试台两个专题。
　　    《现代集成电路测试技术》可作为从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员，以及准备进入该领域的管理人员的学习和培训教材，也可作为高等院校相关专业师生的教材和参考书。