微电子技术的可靠性-互连.器件及系统

微电子技术的可靠性-互连.器件及系统

作者：刘建影
出版：科学出版社
页数：179
定价：58.00 元
ISBN-10：7030376064
ISBN-13：9787030376060 去豆瓣看看

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