X射线衍射分析技术

　　绪论
　　第1章 X射线物理学基础
　　1.1 x射线的产生及其性质
　　1.2 x射线谱
　　1.3 x射线与物质的相互作用
　　1.4 x射线的衰减规律及其应用
　　1.5 x射线的探测与防护
　　习题
　　第2章 晶体和空间点阵
　　2.1 晶体的概念
　　2.2 对称结构与点阵
　　2.3 晶胞、晶系和空间点阵形式
　　2.4 阵点坐标、晶向指数、晶面指数和晶面间距
　　2.5 倒易点阵
　　2.6 晶体的投影
　　2.7 晶带和晶体的标准极图
　　2.8 晶体的对称性
　　2.9 点群
　　2.1 0空间群
　　2.1 1晶体的外形
　　2.1 2晶体结构符号
　　习题
　　第3章 X射线衍射方向
　　3.1 劳厄方程
　　3.2 布拉格方程
　　3.3 衍射矢量方程和厄瓦尔德图解
　　3.4 X射线衍射实验方法概述
　　习题
　　第4章 X射线衍射强度
　　4.1 晶胞中原子位置与衍射线束强度间的关系
　　4.2 一个电子的散射
　　4.3 一个原子的散射
　　4.4 一个晶胞对x射线的散射
　　4.5 影响衍射强度的几种因子
　　4.6 粉末晶体衍射强度计算
　　习题
　　第5章 X射线衍射方法
　　5.1 X射线源
　　5.2 测角仪
　　5.3 单色器
　　5.4 辐射探测器
　　5.5 测量系统
　　5.6 试样的制备方法
　　5.7 仪器条件的准备
　　5.8 具体实验条件的选定
　　5.9 衍射数据采集和数据处理的自动化
　　习题
　　第6章 X射线物相分析
　　6.1 物相定性分析原理
　　6.2 粉末衍射数据库
　　6.3 定性相分析的一般步骤
　　6.4 物相定量分析
　　习题
　　第7章 点阵常数的精确测定
　　7.1 X射线衍射图谱指标化
　　7.2 利用计算机和专业软件进行指标化
　　7.3 晶胞参数的精确测定
　　7.4 精确测定晶胞参数的方法
　　7.5 点阵常数精确测定的应用
　　7.6 利用专用软件计算晶格常数
　　习题
　　第8章 宏观残余应力的测定
　　第9章 晶粒尺寸和微观应力的测定
　　第10章 全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件
　　附录1 质量吸收系数
　　附录2 原子散射因子
　　附录3 角因子（洛伦兹－偏振因子）
　　参考文献

　　    本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。
　　    本书可作为大学材料与工程科学专业本科生、研究生教学用书，也可作为相关专业科技人员的参考书。