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国际贸易的技术溢出:理论及其对中国的实证研究

国际贸易的技术溢出:理论及其对中国的实证研究
作者:李小平 著
出版:北京大学出版社 2008.8
丛书:中南财经政法大学青年学术文库
页数:206
定价:32.00 元
ISBN-13:9787301141939
ISBN-10:7301141939 去豆瓣看看 
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      促进技术进步的全球R&D支出和创新活动主要集中在少数几个发达国家,但是技术进步并不局限于这些发达国家内部。因此,国际技术溢出问题就成为理论界的一个研究热点。《国际贸易的技术溢出:理论及其对中国的实证研究》主要分析了以下几个问题:国际贸易技术溢出的机理如何?中国是否从国际贸易中获得了技术溢出?中国怎样从国际贸易技术溢出中获得更大的收益?
      《国际贸易的技术溢出:理论及其对中国的实证研究》的创新
      首次运用国际R&D溢出回归方法研究了中国工业行业的国际贸易技术溢出问题。
      从吸收能力的角度,分析了国际贸易技术溢出的门槛效应,发现出口的正门槛效应和进口的负门槛效应同时并存。
      运用DEA方法,分析了国际贸易的技术溢出对行业的生产率增长的影响。
      运用VECM模型,检验了中国国际贸易和技术进步的长短期因果关系。
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