第1章 绪论
1.1 核探测技术在核科学研究、核试验测试、核技术应用中的作用与地位
1.2 核辐射探测器的发展及其应用简介
第2章 核辐射和核辐射探测的原理和方法
2.1 核辐射的基本性质
2.2 探测带电粒子的物理基础及常用的带电粒子探测器
2.3 X，y射线的探测原理及常用的核辐射探测器
2.4 中子的探测方法
第3章 气体探测器
3.1 气体探测器的原理
3.2 电离室
3.3 电流电离室和累计电离室
3.4 正比计数管及其应用
3.5 G-M计数管
3.6 气体多丝正比室和漂移室
3.7 高气压电离室和高气压氙电离室
第4章 闪烁探测器
4.1 闪烁探测器的构成和工作原理
4.2 闪烁体
4.3 闪烁体的特性参数
4.4 无机闪烁体的种类和它的物理参数
4.5 常用的有机闪烁体
4.6 闪烁体的选择
4.7 光学收集系统
4.8 闪烁探测器的工作特性
4.9 闪烁探测器的坪特性
4.10 闪烁体探测器的应用
第5章 半导体探测器
5.1 半导体的基础知识
5.2 本征半导体
5.3 N型半导体和P型半导体
5.4 载流子
5.5 半导体探测器对半导体材料的要求和它的基本工作原理
5.6 用于制备核辐射探测器的硅、锗和化合物半导体材料
5.7 半导体探测器的工作原理、制备工艺
5.8 半导体探测器的结构和基本类型
第6章 硅探测器
6.1 硅核辐射探测器的种类
6.2 P—N结的形成
6.3 硅半导体探测器的各种特性参数
6.4 核辐射探测特性参数
第7章 硅锂漂移探测器
7.1 锂漂移探测器I0区(灵敏区)的形成(补偿区的制备)
7.2 锂漂移探测器的分类
7.3 硅锂漂移探测器的特性参数
7.4 半导体x射线探测器的选择及其性能和特点
7.5 x射线能谱测量和数据图表
7.6 硅锂漂移x射线谱仪的应用
第8章 特殊类型的半导体探测器
8.1 全耗尽探测器
8.2 位置灵敏探测器
8.3 硅漂移室SDC和电荷耦合探测器(CCD)
8.4 内放大探测器(或雪崩倍增放大器)
8.5 P—I—N电流型探测器
8.6 夹心(夹层)型半导体中子探测器
8.7 匀质体电导型——无结型器件
8.8 MOS—C探测器
8.9 高分辨率网栅型Au-si表面势垒探测器
8.10 光电导探测器和光电二极管探测器
8.11 环形金硅面垒探测器
第9章 高纯锗探测器
9.1 HPGe探测器的结构
9.2 HPGe探测器的电场和电容
9.3 HWGe探测器灵敏区和死层
9.4 HPGe探测器的能量分辨率
9.5 HPGe探测器的探测效率
9.6 峰面积、频谱本底、谱峰极大值和峰康比
9.7 锗探测器的时间特性
9.8 辐射损伤
9.9 锗射线探测器的应用
9.10 锗y射线探测器测试方法
第10章 化合物半导体探测器
10.1 概述
10.2 砷化镓(GaAs)核辐射探测器
10.3 碲化镉(CdTe)核辐射探测器
10.4 碲锌镉核辐射探测器
10.5 碘化汞(Hgl2)核辐射探测器
第11章 低温量热和超导体核辐射探测器
11.1 低温量热核辐射探测器
11.2 低温超导体核辐射探测器
11.3 超导体和低温量热核辐射探测器的应用
11.4 展望
第12章 其他核辐射探测器
12.1 切伦科夫探测器
12.2 热释光探测器
12.3 径迹探测器
12.4 康普顿二极管
12.5 自给能探测器
12.6 液体电离室
12.7 气体正比闪烁探测器
12.8 穿越辐射探测器
第13章 探测器的本底和屏蔽
13.1 本底来源
13.2 降低本底的方法
第14章 核辐射探测器的应用
14.1 概述
14.2 实验核物理中用于粒子鉴别的核辐射探测器
14.3 核辐射探测器在反应堆(核电站)上的应用
14.4 核辐射探测器在核能谱(核辐射能量)测量中的应用
14.5 探测和测量脉冲辐射束的探测器
14.6 核辐射探测器在核辐射强度和辐射剂量测量中的应用
14.7 核辐射探测器在核成像和其他研究领域中的应用
14.8 探测器在核保障、核材料生产、加工处理中的监测和核电站燃料燃耗的测量
14.9 x射线荧光分析用核辐射探测器和x射线荧光分析的应用
14.10 核辐射探测器在宇宙空间天体物理领域的应用
14.11 核辐射探测器在核医学和临床医学中的应用
附录
参考文献
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