材料X射线衍射与电子显微分析:材料分析测试技术

作者:周玉 (作者), 武高辉 (作者)
出版:哈尔滨工业大学出版社 2007.8
页数:311
定价:26.80 元
ISBN-13:9787560313382
ISBN-10:7560313388 去豆瓣看看
出版:哈尔滨工业大学出版社 2007.8
页数:311
定价:26.80 元
ISBN-13:9787560313382
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目 录内容简介
《材料分析测试技术》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法,并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
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