原子吸收光谱仪

目 录
第1章绪论
11原子吸收光谱仪器研究和商品仪器的开发
111原子吸收光谱仪器工作原理的形成
112由原理样机到生产样机的研究开发
12原子吸收光谱商品仪器的发展及现状
13原子吸收光谱仪器的主要特点
14原子吸收光谱分析的应用
参考文献
第2章原子吸收光谱测量原理
21Walsh测量峰值吸收的思想
22原子吸收谱线与吸收系数
23积分吸收系数与峰值吸收系数
24原子吸收光谱分析的基本关系式
25原子吸收光谱分析法的实际测量
26原子吸收光谱分析的定量方法
261标准曲线法
262标准加入法
263标准曲线的制作
27影响测量结果的因素
参考文献
第3章仪器基本构造
31光源系统
311原子吸收光谱仪对光源的要求
312气体放电灯基本原理
313气体放电光源的优点
314空心阴极灯
315无极放电灯
316氘灯
317连续光源
32原子化系统
321火焰原子化系统
322非火焰原子化系统
33光学系统
331光束会聚子系统
332光度子系统
333分光子系统
334光信号接收系统
335光学件支持与调节系统
34检测系统
341光电倍增管工作原理
342光电倍增管基本结构与类型
343光电倍增管的特性参数
35电学系统
351光源供电及位置调控电路
352原子化系统调控电路
353光学系统调控电路
354检测器调控电路
355信号读出与显示系统
36背景校正系统
361背景干扰的产生与特性
362背景校正技术发展概况
363背景校正装置工作原理与特点
364背景校正装置的构造
37数据处理系统
371分析数据库管理系统
372信号处理系统
373数据处理系统
374分析数据质量控制
参考文献
第4章仪器性能评价与检验
41概述
42波长准确度与重复性
421准确度与重复性的含义
422影响波长准确度与重复性的因素
423波长准确度与重复性的检验方法
43分辨力
431分辨力的含义
432影响分辨力的因素
433分辨力的检验方法
44基线稳定性
441基线稳定性的含义
442影响基线稳定性的因素
443检验基线稳定性的方法
45特征浓度(特征量)与灵敏度
451特征浓度(特征量)与灵敏度的含义
452影响特征浓度(特征量)与灵敏度的因素
453特征浓度(特征量)与灵敏度的检验方法
46精密度与准确度
461精密度与准确度的含义
462影响精密度与准确度的因素
463精密度与准确度的检验方法
47检出限
471检出限的含义
472影响检出限的因素
473检出限的检验方法
48背景校正能力
481背景校正能力的含义
482影响背景校正能力的因素
483背景校正能力的检验方法
49边缘能量
491边缘能量的含义
492影响边缘能量的因素
493检验边缘能量的方法
410性能评价体系的有关问题
4101名词术语方面
4102指标要求方面
4103检验方法方面
参考文献
第5章仪器的使用与维护
51工作环境与安全保障要求
511工作环境要求
512工作条件要求
52安装
521货品验收与开箱
522安装前的准备
523主机安装
524原子化器系统的安装
525配套设备的安装
526管道泄漏的检查
53验收
531验收项目
532验收要求
533验收内容与方法
54参数选择与使用要点
541光源的使用及参数选择
542光学系统的使用与参数选择
543原子化系统的使用与参数选择
544电学与数据处理系统的使用与参数选择
55日常保养与维护
551光源系统
552光学系统
553检测系统
554原子化系统
555气水供给系统
556电路系统
参考文献
第6章常见故障分析与处置方法
61光源系统故障分析与处置
611空心阴极灯故障分析
612氘灯故障分析
62光学系统故障分析与处置
621分光系统故障分析
622光束传导系统故障分析
63原子化系统故障分析与处置
631火焰原子化系统故障分析
632石墨炉原子化系统故障分析
64检测系统故障分析与处置
65电学系统故障分析与处置
66数据处理系统故障分析与处置
67背景校正系统故障分析与处置
671氘灯背景校正故障分析
672自吸效应背景校正故障分析
673塞曼效应背景校正故障分析
68故障综合因素分析与处置
69紧急情况分析与处置
参考文献
第7章主要附件
71空气压缩机
711类型与结构特点
712选配要求
713使用注意事项
72氢化物发生器
721工作原理
722结构及功能
723特点
724安装注意事项
725使用注意事项
73自动进样器
731基本结构
732技术规格
733功能特性
734使用维护注意事项
74冷却循环水机
参考文献
第8章仪器技术的进展
81原子化器系统的进步
811火焰原子化系统
812石墨炉原子化器
813阴极溅射原子化器
82高分辨中阶梯光栅分光系统
821中阶梯光栅、棱镜两次色散一维分光系统
822中阶梯光栅、棱镜两次色散二维分光系统
823中阶梯光栅、棱镜两次色散电子扫描分光系统
83固体检测器件的应用
831电荷耦合器件(CCD)
832电荷注入器件(CID)
833CMOS图像传感器
84背景校正技术系统的发展
841一次测量背景校正系统商品仪器的问世
842连续光源一次测量背景校正法
843背景校正性能的改进与扩展
85快速检测电路与大规模IC元件的应用
851大规模集成电路对仪器进步的影响
852芯片间总线的使用
853快速检测电路
86仪器的自动化和智能化
参考文献
第9章国内外原子吸收光谱仪器发展概要
91原子吸收光谱仪器的类型
911氘灯背景校正原子吸收光谱仪器
912塞曼背景校正原子吸收光谱仪器
913两种不同背景校正组合方式原子吸收光谱仪器
92国外原子吸收光谱仪器发展
921连续光源原子吸收光谱仪器
922多元素同时测定原子吸收光谱仪器
93国内原子吸收光谱仪器的发展
参考文献
11原子吸收光谱仪器研究和商品仪器的开发
111原子吸收光谱仪器工作原理的形成
112由原理样机到生产样机的研究开发
12原子吸收光谱商品仪器的发展及现状
13原子吸收光谱仪器的主要特点
14原子吸收光谱分析的应用
参考文献
第2章原子吸收光谱测量原理
21Walsh测量峰值吸收的思想
22原子吸收谱线与吸收系数
23积分吸收系数与峰值吸收系数
24原子吸收光谱分析的基本关系式
25原子吸收光谱分析法的实际测量
26原子吸收光谱分析的定量方法
261标准曲线法
262标准加入法
263标准曲线的制作
27影响测量结果的因素
参考文献
第3章仪器基本构造
31光源系统
311原子吸收光谱仪对光源的要求
312气体放电灯基本原理
313气体放电光源的优点
314空心阴极灯
315无极放电灯
316氘灯
317连续光源
32原子化系统
321火焰原子化系统
322非火焰原子化系统
33光学系统
331光束会聚子系统
332光度子系统
333分光子系统
334光信号接收系统
335光学件支持与调节系统
34检测系统
341光电倍增管工作原理
342光电倍增管基本结构与类型
343光电倍增管的特性参数
35电学系统
351光源供电及位置调控电路
352原子化系统调控电路
353光学系统调控电路
354检测器调控电路
355信号读出与显示系统
36背景校正系统
361背景干扰的产生与特性
362背景校正技术发展概况
363背景校正装置工作原理与特点
364背景校正装置的构造
37数据处理系统
371分析数据库管理系统
372信号处理系统
373数据处理系统
374分析数据质量控制
参考文献
第4章仪器性能评价与检验
41概述
42波长准确度与重复性
421准确度与重复性的含义
422影响波长准确度与重复性的因素
423波长准确度与重复性的检验方法
43分辨力
431分辨力的含义
432影响分辨力的因素
433分辨力的检验方法
44基线稳定性
441基线稳定性的含义
442影响基线稳定性的因素
443检验基线稳定性的方法
45特征浓度(特征量)与灵敏度
451特征浓度(特征量)与灵敏度的含义
452影响特征浓度(特征量)与灵敏度的因素
453特征浓度(特征量)与灵敏度的检验方法
46精密度与准确度
461精密度与准确度的含义
462影响精密度与准确度的因素
463精密度与准确度的检验方法
47检出限
471检出限的含义
472影响检出限的因素
473检出限的检验方法
48背景校正能力
481背景校正能力的含义
482影响背景校正能力的因素
483背景校正能力的检验方法
49边缘能量
491边缘能量的含义
492影响边缘能量的因素
493检验边缘能量的方法
410性能评价体系的有关问题
4101名词术语方面
4102指标要求方面
4103检验方法方面
参考文献
第5章仪器的使用与维护
51工作环境与安全保障要求
511工作环境要求
512工作条件要求
52安装
521货品验收与开箱
522安装前的准备
523主机安装
524原子化器系统的安装
525配套设备的安装
526管道泄漏的检查
53验收
531验收项目
532验收要求
533验收内容与方法
54参数选择与使用要点
541光源的使用及参数选择
542光学系统的使用与参数选择
543原子化系统的使用与参数选择
544电学与数据处理系统的使用与参数选择
55日常保养与维护
551光源系统
552光学系统
553检测系统
554原子化系统
555气水供给系统
556电路系统
参考文献
第6章常见故障分析与处置方法
61光源系统故障分析与处置
611空心阴极灯故障分析
612氘灯故障分析
62光学系统故障分析与处置
621分光系统故障分析
622光束传导系统故障分析
63原子化系统故障分析与处置
631火焰原子化系统故障分析
632石墨炉原子化系统故障分析
64检测系统故障分析与处置
65电学系统故障分析与处置
66数据处理系统故障分析与处置
67背景校正系统故障分析与处置
671氘灯背景校正故障分析
672自吸效应背景校正故障分析
673塞曼效应背景校正故障分析
68故障综合因素分析与处置
69紧急情况分析与处置
参考文献
第7章主要附件
71空气压缩机
711类型与结构特点
712选配要求
713使用注意事项
72氢化物发生器
721工作原理
722结构及功能
723特点
724安装注意事项
725使用注意事项
73自动进样器
731基本结构
732技术规格
733功能特性
734使用维护注意事项
74冷却循环水机
参考文献
第8章仪器技术的进展
81原子化器系统的进步
811火焰原子化系统
812石墨炉原子化器
813阴极溅射原子化器
82高分辨中阶梯光栅分光系统
821中阶梯光栅、棱镜两次色散一维分光系统
822中阶梯光栅、棱镜两次色散二维分光系统
823中阶梯光栅、棱镜两次色散电子扫描分光系统
83固体检测器件的应用
831电荷耦合器件(CCD)
832电荷注入器件(CID)
833CMOS图像传感器
84背景校正技术系统的发展
841一次测量背景校正系统商品仪器的问世
842连续光源一次测量背景校正法
843背景校正性能的改进与扩展
85快速检测电路与大规模IC元件的应用
851大规模集成电路对仪器进步的影响
852芯片间总线的使用
853快速检测电路
86仪器的自动化和智能化
参考文献
第9章国内外原子吸收光谱仪器发展概要
91原子吸收光谱仪器的类型
911氘灯背景校正原子吸收光谱仪器
912塞曼背景校正原子吸收光谱仪器
913两种不同背景校正组合方式原子吸收光谱仪器
92国外原子吸收光谱仪器发展
921连续光源原子吸收光谱仪器
922多元素同时测定原子吸收光谱仪器
93国内原子吸收光谱仪器的发展
参考文献
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