可靠性试验

　　第1章概论
　　1.1 电子元器件
　　1.2 电子元器件的可靠性
　　1.3 影响电子元器件可靠性的因素
　　1.4 电子元器件可靠性试验的定义与原理
　　1.4.1 可靠性试验的定义
　　1.4.2 可靠性试验的原理
　　1.5 电子元器件可靠性试验的分类及内涵
　　1.5.1 可靠性试验的分类
　　1.5.2 可靠性增长试验和失效分析试验
　　1.5.3 老炼试验和筛选试验
　　1.5.4 模拟试验和现场试验
　　1.5.5 例行试验、质量一致性检验和可靠性验收试验
　　1.5.6 可靠性鉴定试验、可靠性定级试验和可靠性维痔试验
　　1.6 可靠性试验在可靠性工程中的地位
　　复习与思考题
　　第2章电子元器件的可靠性试验
　　2.1 电子元器件的可靠性试验概述
　　2.1.1 失效判据
　　2.1.2 可靠性试验方法
　　2.2 电子元器件的失效率试验
　　2.2.1 电子元器件失效率试验的种类和方法
　　2.2.2 失效率等级与置信度
　　2.2.3 试验方法原理及抽样表
　　2.2.4 失效率试验的一般要求
　　2.2.5 失效率试验程序
　　2.2.6 应用举例
　　2.2.7 失效率、置信度、允许失效数和总试验时间的关系
　　2.3 电子元器件的寿命试验
　　2.3.1 长期寿命试验
　　2.3.2 利用威布尔概率纸估计可靠性数量特征的方法
　　2.3.3 估计可靠性数量特征的数学方法
　　2.3.4 加速寿命试验
　　2.4 电子元器件的可靠性增长试验方法
　　2.4.1 概述
　　2.4.2 基本概念
　　2.4.3 可靠性增长试验的一般要求
　　2.4.4 可靠性增长试验的实施（详细要求）
　　2.4.5 杜安可靠性增长模型的说明和mtbf移动平均值法的探
　　2.4.6 amsaa模型增长分析
　　2.5 电子元器件的可靠性筛选
　　2.5.1 概述
　　2.5.2 可靠性筛选
　　2.5.3 可靠性筛选的分类
　　2.5.4 可靠性筛选条件的选择
　　2.5.5 常用的筛选方法及其效果
　　2.5.6 筛选试验技术
　　2.6 电子元器件的其他可靠性试验
　　2.6.1 例行试验
　　2.6.2 鉴定验收试验
　　2.6.3 电子元器件的可靠性认定试验
　　2.6.4 电子元器件的认证试验
　　2.7 电子设备的可靠性试验
　　2.7.1 可靠性试验的种类及其目的
　　2.7.2 正确评定设备的可靠性
　　复习与思考题
　　第3章电子元器件的可靠性基础试验
　　3.1 概述
　　3.2 机械、环境试验
　　3.2.1 概述
　　3.2.2 机械、环境试验的分类
　　3.2.3 振动试验
　　3.2.4 冲击试验
　　3.2.5 离心加速度试验
　　3.2.7 与外引线有关的试验
　　3.2.8 密封试验
　　3.2.9 湿热试验
　　3.2.1 0粒子碰撞噪声检测多余物试验
　　3.2.1 1老炼试验
　　3.2.1 2盐雾试验
　　3.2.1 3宇航用电子元器件超期复验试验
　　3.2.1 4内部水汽含量试验
　　3.2.1 5辐射试验
　　3.2.1 6键合强度试验
　　3.2.1 7芯片附着强度试验
　　3.2.1 8低气压试验（超高真空试验）
　　3.2.1 9混响试验
　　3.2.2 0无重力（微重力）试验
　　3.3 电子元器件的电性能特性参数检测试验
　　3.3.1 电压测量
　　3.3.2 电流测量
　　3.3.3 阻抗测量
　　3.3.4 绝缘电阻试验
　　3.3.5 电子元器件制造防静电系统的测试
　　3.3.6 电离辐射（总剂量）试验程序
　　3.3.7 剂量率感应锁定试验程序
　　3.3.8 数字微电路的剂量率翻转试验
　　3.3.9 mos场效应晶体管阈值电压
　　3.3.1 0线性微电路的剂量率响应和翻转阈值
　　3.3.1 1静电放电敏感度试验
　　3.4 电子元器件可靠性试验的常用设备
　　3.4.1 概述
　　3.4.2 机械、环境试验设备
　　3.4.3 电性能特性参数测试设备
　　3.4.4 综合测试设备
　　复习与思考题
　　第4章电子元器件的可靠性试验设计
　　4.1 可靠性试验的一般要求
　　4.1.1 试验类型的选择
　　4.1.2 可靠性试验的设计
　　4.1.3 可靠性试验前应具备的条件
　　4.1.4 试验样品的要求
　　4.1.5 试验设备、仪器仪表的要求
　　4.1.6 试验的实施要求
　　4.1.7 受试设备的检测要求
　　4.1.8 受试设备接收与否的判决
　　4.1.9 纠正措施与预防性维护的要求
　　4.1.1 0受试设备的复原
　　4.1.1 1对可靠性试验的检查与监督
　　4.2 试验条件选择及试验周期设计
　　4.2.1 电子设备的分类
　　4.2.2 试验条件的分类
　　4.2.3 试验条件的选择
　　4.2.4 对基本环境试验方法的要求
　　4.2.5 试验中的工作条件
　　4.2.6 试验周期（循环）与试验程序的设计
　　4.2.7 推荐的试验周期
　　4.2.8 编制可靠性试验程序的实例与说明
　　4.3 可靠性试验报告
　　4.3.1 概述
　　4.3.2 可靠性试验报告
　　4.4 现场可靠性试验
　　4.4.1 现场可靠性试验的目的小
　　4.4.2 现场可靠性试验的一般要求
　　4.4.3 正确评定和比较现场与实验室模拟的可靠性试验数据
　　4.5 可靠性试验技术与管理
　　4.5.1 可靠性试验技术
　　4.5.2 可靠性试验的管理
　　复习与思考题
　　结束语
　　主要参考文献

　　本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一。本书在介绍电子元器件可靠性的必要性及基本概念的基础上，详细介绍了电子元器件的主要可靠性试验和通用的基本可靠性试验的原理、常用设备及操作程序，进而介绍了电子元器件可靠性试验的设计及技术问题。目的在于提高电子元器件可靠性试验的水平及技术。
　　本书为电子元器件质量与可靠性技术培训教材，对从事质量与可靠性工作的技术人员和管理人员是一本实用的参考书。