第1章 测试技术基础
1.1 测试与测试系统
1.1.1 测试
1.1.2 测试系统
1.2 电子测量与电子仪器
1.2.1 电子测量及方法
1.2.2 电子测量仪器
1.2.3 测量仪器的主要性能
1.3 测量误差及处理
1.3.1 误差分类
1.3.2 误差的表示方法
1.3.3 减小误差的方法
1.4 误差的合成与分配
1.4.1 测量误差的合成
1.4.2 测量误差的分配
思考与练习题
第2章 传感器技术
2.1 传感器概述
2.2 应变式传感器
2.2.1 电阻应变效应
2.2.2 应变计的结构与分类
2.2.3 应变式传感器的应用
2.3 光电式传感器
2.3.1 光电效应
2.3.2 光电管
2.3.3 光敏电阻
2.4 压电式传感器
2.4.1 压电效应
2.4.2 压电传感器的等效电路
2.4.3 压电传感器的应用
2.5 霍耳传感器
2.5.1 霍耳效应
2.5.2 霍耳器件的特性
2.5.3 霍耳传感器的应用
2.6 电容式传感器
2.6.1 电容式传感器的工作原理
2.6.2 电容式传感器的应用
2.7 光纤传感器
2.7.1 光纤
2.7.2 光纤传感器的应用
2.8 空天传感器
2.8.1 概述
2.8.2 摄影类传感器
2.8.3 扫描成像类传感器
2.8.4 微波成像类传感器
2.9 智能传感器
2.10 传感器管理
2.10.1 传感器管理的概念与内容
2.10.2 传感器管理系统的结构
2.10.3 传感器管理的主要技术
思考与练习题
第3章 总线技术
3.1 总线概述
3.1.1 总线的概念和分类
3.1.2 总线的组成
3.1.3 总线的性能参数
3.2 常见微型机总线
3.2.1 STD总线
3.2.2 PC-104总线
3.2.3 USB总线
3.2.4 IEEE1394总线
3.3 GPIB总线
3.3.1 GPIB总线概述
3.3.2 GPIB总线特性
3.3.3 GPIB总线接口信号
3.3.4 GPIB总线三线挂钩过程
3.4 RS-232C/422/485总线
3.4.1 RS-232C/422/485总线概述
3.4.2 RS-232/422/485总线接口信号
3.4.3 RS-232/422/485总线特性
3.4.4 RS-232/422/485总线拓扑结构
3.5 VXI总线
3.5.1 VXI总线概述
3.5.2 VxI总线接口信号
3.5.3 VxI总线系统控制方案
3.5.4 硬件寄存器与通信
3.5.5 VxI总线接口软件
3.5.6 电磁兼容与噪声
3.6 1553B总线
3.6.11 553B总线概述
3.6.2 1553B总线特性
3.6.3 1553B总线消息传输机制
3.6.4 1553B总线应用
3.7 PXI总线
3.7.1 PXI总线概述
3.7.2 PXI机械特性
3.7.3 PxI总线规范
3.7.4 PXI系统控制器
思考与练习题
第4章 虚拟仪器技术
4.1 虚拟仪器基本概念
4.1.1 虚拟仪器技术
4.1.2 虚拟仪器的组成
4.1.3 虚拟仪器技术的优势
4.2 虚拟仪器的软件标准
4.2.1 VISA技术
4.2.2 SCPI技术
4.2.3 VPP技术
4.2.4 IVI技术
4.3 虚拟仪器开发环境
4.3.1 LabVIEW
4.3.2 MeasurementStudy
4.3.3 LabWindows/CVI
4.3.4 VisualC++
4.3.5 VisualBasic
4.3.6 AgilentVEE
4.4 虚拟仪器设计示例
4.4.1 产生不同的测试信号
4.4.2 信号频谱分析示例
4.4.3 数字滤波器
4.4.4 曲线拟合
思考与练习题
第5章 自动测试系统设计
5.1 自动测试系统
5.1.1 概述
5.1.2 自动测试系统总体设计
5.2 自动测试系统的硬件设计
5.2.1 硬件资源配置
5.2.2 输入通道的设计
5.2.3 输出通道的设计
5.2.4 硬件设计应注意的几个问题
5.3 自动测试系统的软件设计
5.4 系统设计举例
5.4.1 工业锅炉测试系统
5.4.2 导弹译码器测试系统
思考与练习题
第6章 测试性与故障诊断技术
6.1 测试性
6.1.1 测试性的概念
6.1.2 测试性描述
6.1.3 测试点选择与测试策略
6.1.4 测试性分析与设计软件
6.2 故障与故障诊断
6.2.1 故障
6.2.2 故障诊断
6.2.3 故障诊断的基本方法
6.2.4 故障树分析法
6.2.5 专家系统故障诊断
6.2.6 故障诊断技术发展趋势
思考与练习题
参考文献
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