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电子元器件可靠性设计

电子元器件可靠性设计
作者:王蕴辉,于宗光,孙再吉 主编
出版:科学出版社 2007.9
丛书:电子可靠性工程技术实践丛书
页数:514
定价:49.90 元
ISBN-13:9787030196385
ISBN-10:7030196384 去豆瓣看看 
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目 录内容简介
  为使我国电子元器件可靠性技术的研究和应用迈向一个新台阶,促进元器件固有可靠性水平的提高,我们组织国内重点元器件研制生产单位长期从事元器件设计的专家,在总结多年可靠性工作经验的基础上,密切结合我国元器件的实际情况,编写此书,呈现给读者。
  本书共分9章,内容涉及电子元器件可靠性设计的一般要求;单片集成电路可靠性设计;混合集成电路可靠性设计与控制;半导体分立器件可靠性设计;连接器可靠性设计;继电器可靠性设计;电容器可靠性设计;微特电机可靠性设计;声表面波器件可靠性设计等。本书内容全面,翔实,涵盖电子元器件可靠性设计和控制所必需的基本技术与方法。另外,对各类元器件均给出了应用实例。
  本书既可作为电子元器件研制、生产单位的培训教材,也可作为高等院校研究生、本科生的参考教材,同时也可供广大工程技术人员参考。

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