SPC统计制程管制

　　第一篇 统计制程管制SPC导入
　　1、前言
　　2、SPC的定义
　　3、管制计划
　　4、SPC的导入
　　第二篇 变异的本质
　　1、变异的本质
　　2、局部对策及系统改善
　　3、制程管制及制程能力改善
　　4、管制图--制程管制的工具
　　第三篇 基本统计
　　1、数据的整理及分析
　　2、计量值统计数据的数量表示
　　3、计数值统计数据的数量表示
　　4、次数分配及直方图分析
　　5、制程能力分析
　　6、推移图分析
　　7、柏拉图分析
　　8、散步图分析(Scatter Plot)
　　9、箱型图分析(Box Plot)
　　10、多变数分析(Multi-Vari)
　　第四篇 管制图的原理
　　1、管制图的定义
　　2、计量值统计量的抽样分配
　　3、计数值统计量的抽样分配
　　4、计量值管制图的管制界限
　　5、计数值管制图的管制界限
　　第五篇 计量值管制图
　　1、计量值管制图的制作与解析
　　2、计量值的合理分组
　　3、管制图特殊原因判定的八大规则
　　第六篇 计数值管制图
　　1、计数值管制图的制作与解析
　　2、计数值的合理分组
　　第七篇 量测系统分析
　　1、量测系统分析
　　2、计量值量测系统分析
　　3、计数值量测系统分析
　　第八篇 制程能力研究
　　1、关键产品及制程特性
　　2、短期制程能力研究
　　3、长期制程能力研究
　　第九篇 SIX SIGMA改善活动
　　1、Six Sigma的缘起
　　2、Six Sigma的基本原理
　　3、Six Sigma的导入要领
　　4、Six Sigma与QS-9000的连结
　　5、Six Sigma改善活动应用的统计技术
　　第十篇 简易DOE
　　1、实验设计的专门术语及概论
　　2、实验设计基本原则
　　3、实验设计实施步骤
　　4、直交表分析

　　本书共分十篇及十个附录，分别说明如下
　　一、正文部分
　　一篇：统计制程管制SPC导入
　　本篇以供应商导入需求及导入方法为介绍重点。
　　第二篇：变异的本质
　　本篇主要解释如何以简单的统计方法来掌握制程系统的变异，以管制图侦测制程系统变异的原因，使读者能正确地掌握制程系统。
　　第三篇：基本统计
　　本篇以符合实际制程系统的数据架构，根据不同时间、批次或样本的动态数据，定义一些通用的统计量，如计量值的平均数、中位数、标准差、全距及计数值的不良数、不良率、良率、缺点数、单位缺点数，来衡量制程系统的变异。
　　第四篇：管制图原理
　　管制图的设计原理是应用来自制程系统的动态数据，选择适当的统计量，以简单的推移图解读制程系统在样本与样本、批与批、时间与时间之间的变异程度。
　　第五篇：计量值管制图
　　介绍计量值管制图如何合理地分组，才能使同时间取样的组内变异只有共同原因存在。
　　第六篇：计数值管制图
　　计数值管制图一般以管制制程系统的生产批或检验批之间品质的变异为目的，合理分组才能使一个批为一组，批量太大应合理地分割，批量太小应予合并。
　　第七篇：量测系统分析
　　介绍业界除了对仪器设备进行有效的管理之外，对于制程管制系统中使用的量测系统进行研究是很重要的。
　　第八篇：制程能力研究
　　介绍如何决定采用不同的方式对关键产品、制程特性、短期、长期制程能力进行研究，短期制程能力研究着重在新产品及新制程的试作、初期生产、工程变更及制程设备改变等阶段；长期则以量产期间为主。
　　第九篇：6σ改善活动
　　美国产业界自Motorola成功导入6σ而获取极大的经营利益后，大企业如AlliedSignal、GE、Sony、TI、Polaroid等都积极导入。
　　第十篇：简易实验设计
　　以规格化的直交表来进行直交实验设计，使得工业界使用实验设计的可行性增强。