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碳化硅晶体生长与缺陷

碳化硅晶体生长与缺陷
作者:施尔畏
出版:科学出版社 2012.5
页数:360
定价:128.00 元
ISBN-13:9787030341280
ISBN-10:7030341287 去豆瓣看看 
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目 录内容简介
      《碳化硅晶体生长与缺陷》系统地介绍了物理气相输运(PVT)法碳化硅晶体生长与缺陷研究方面的工作,由碳化硅晶体的多型结构与表征、碳化硅晶体的PVT法生长、气相组分SimCn和碳化硅晶体的生长机制、碳化硅晶体的结晶缺陷四部分组成。《碳化硅晶体生长与缺陷》从碳化硅晶体结构出发,把气相组分作为贯穿生长原料分解升华、系统中的质量/能量输运、生长界面的结晶过程、晶体中缺陷的繁衍与发育等的一条主线,从而使读者对PVT法碳化硅晶体生长的复杂系统和过程有一个全面的、深入的认识和理解。
      《碳化硅晶体生长与缺陷》可供从事无机晶体生长研究的科技人员参考,亦可供从事相关领域研究的科技人员和在学研究生阅读。


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