集成测试框架:用Fit进行敏捷软件测试

作者：(美)穆格雷珠（Mugridge，R.），（美）坎宁安（Cunningham，W.）　著，吴兰陟　译
出版：电子工业出版社 2007.10
页数：354
定价：45.00 元
ISBN-13：9787121040948
ISBN-10：7121040948 去豆瓣看看