第1章 绪论
1．1 自动测试的基本概念
1．1．1 自动测试的定义
1．1．2 自动测试的特点
1．1．3 几个有关概念
1．2 自动测试的发展历程
1．2．1 专用自动测试系统
1．2．2 基于GPIB总线的积木式自动测试系统
1．2．3 基于VxI总线的模块化自动测试系统
1．2．4 基于LxI总线的网络化自动测试系统
1．3 自动测试系统的组成
1．3．1 结构组成
1．3．2 元素组成
1．4 自动测试系统的评价指标
1．4．1 测试对象
1．4．2 主要功能
1．4．3 工作方式
1．4．4 适应环境
1．4．5 故障检测率
1．4．6 故障隔离率
1．4．7 虚警率
1．4．8 故障检测时间
1．4．9 故障隔离时问
1．4．10 连续工作时间
1．4．11 可靠性
1．4．12 维修性
1．4．13 测试性
1．4．14 安全性
1．4．15 保障性
1．4．16 电磁兼容性
1．4．17 可扩展性
参考文献
第2章 基于单片机的自动测试系统
2．1 基本硬件组成
2．1．1 单片机及单片机最小系统
2．1．2 多路开关
2．1．3 A／D转换器
2．1．4 D／A转换器
2．1．5 键盘
2．1．6 传感器
2．1．7 加载电源
2．2 信号调理、数据采集与输入显示
2．2．1 信号调理
2．2．2 数据采集
2．2．3 输入与显示
2．3 基于单片机的自动测试的实现
2．3．1 基于单片机的自动测试系统的需求分析
2．3．2 基于单片机的自动测试系统的硬件实现
2．3．3 基于单片机的自动测试系统的软件实现
参考文献
第3章 测试性设计技术
3．1 测试性的定义
3．1．1 测试性要素
3．1．2 测试性指标
3．2 测试性的研究及发展
3．2．1 国外研究发展情况
第4章 合成仪器技术
第5章 并行测试技术
第6章 LXI总线技术
第7章 全寿命测试信息框架
第8章 预测与健康管理技术
第9章 便携式维修辅助技术
第10章 下一代自动测试系统
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