材料分析方法（第3版）

　　第3版前言
　　第2版前言
　　第1版前言
　　绪论1
　　第一篇 材料X射线衍射分析3
　　第一章 X射线物理学基础5
　　第一节 X射线的性质5
　　第二节 X射线的产生及X射线谱6
　　第三节 X射线与物质的相互作用9
　　习题15
　　第二章 X射线衍射方向17
　　第一节 晶体几何学简介17
　　第二节 布拉格方程22
　　第三节 X射线衍射方法28
　　习题29
　　第三章 X射线衍射强度31
　　第一节 多晶体衍射图相的形成31
　　第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数32
　　第三节 洛伦兹因数35
　　第四节 影响衍射强度的其他因数36
　　第五节 多晶体衍射的积分强度公式38
　　习题38
　　第四章 多晶体分析方法40
　　第一节 德拜谢乐法40
　　第二节 其他照相法简介45
　　第三节 X射线衍射仪47
　　习题54
　　第五章 物相分析及点阵参数精确测定55
　　第一节 定性分析55
　　第二节 定量分析59
　　第三节 点阵参数的精确测定62
　　第四节 非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析66
　　习题70
　　第六章 宏观残余应力的测定71
　　第一节 物体内应力的产生与分类71
　　第二节 X射线宏观应力测定的基本原理72
　　第三节 宏观应力测定方法75
　　第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题80
　　习题84
　　第七章 多晶体织构的测定85
　　第一节 极射赤面投影法85
　　第二节 织构的种类和表示方法89
　　第三节 丝织构指数的测定95
　　第四节 极图的测定96
　　第五节 反极图的测定100
　　习题102
　　第二篇 材料电子显微分析103
　　第八章 电子光学基础105
　　第一节 电子波与电磁透镜105
　　第二节 电磁透镜的像差与分辨率108
　　第三节 电磁透镜的景深和焦长111
　　习题112
　　第九章 透射电子显微镜113
　　第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理113
　　第二节 主要部件的结构与工作原理117
　　第三节 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定119
　　习题121
　　第十章 电子衍射122
　　第一节 概述122
　　第二节 电子衍射原理123
　　第三节 电子显微镜中的电子衍射131
　　第四节 单晶体电子衍射花样标定135
　　第五节 复杂电子衍射花样137
　　习题140
　　第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析141
　　第一节 概述141
　　第二节 薄膜样品的制备方法141
　　第三节 衍射衬度成像原理144
　　第四节 消光距离146
　　第五节 衍衬运动学147
　　第六节 衍衬动力学简介154
　　第七节 晶体缺陷分析157
　　习题165
　　第十二章 高分辨透射电子显微术166
　　第一节 高分辨透射电子显微镜的结构特征166
　　第二节 高分辨电子显微像的原理167
　　第三节 高分辨透射电子显微镜在材料科学中的应用176
　　习题183
　　第十三章 扫描电子显微镜184
　　第一节 电子束与固体样品作用时产生的信号184
　　第二节 扫描电子显微镜的构造和工作原理186
　　第三节 扫描电子显微镜的主要性能189
　　第四节 表面形貌衬度原理及其应用190
　　第五节 原子序数衬度原理及其应用195
　　习题198
　　第十四章 电子背散射衍射分析
　　技术199
　　第一节 概述199
　　第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学取向基础199
　　第三节 电子背散射衍射技术硬件系统209
　　第四节 电子背散射衍射技术原理及花样标定211
　　第五节 电子背散射衍射技术成像及分析215
　　第六节 电子背散射衍射技术数据处理220
　　习题224
　　第十五章 电子探针显微分析225
　　第一节 电子探针仪的结构与工作原理225
　　第二节 电子探针仪的分析方法及应用229
　　习题231
　　第十六章 其他显微结构分析方法232
　　第一节 离子探针显微分析232
　　第二节 低能电子衍射分析234
　　第三节 俄歇电子能谱分析238
　　第四节 场离子显微镜与原子探针243
　　第五节 扫描隧道显微镜与原子力
　　显微镜248
　　第六节 X射线光电子能谱分析254
　　第七节 红外光谱257
　　第八节 激光拉曼光谱264
　　第九节 紫外可见吸收光谱268
　　第十节 原子发射光谱272
　　第十一节 原子吸收光谱276
　　第十二节 核磁共振279
　　第十三节 电子能量损失谱285
　　第十四节 扫描透射电子显微镜288
　　习题289
　　实验指导291
　　实验一 单相立方系物质X射线粉末相计算291
　　实验二 用X射线衍射仪进行多晶体物质的相分析292
　　实验三 宏观残余应力的测定296
　　实验四 金属板织构的测定300
　　实验五 透射电子显微镜结构原理及明暗场成像303
　　实验六 选区电子衍射与晶体取向分析306
　　实验七 扫描电子显微镜的结构原理及图像衬度观察311
　　实验八 电子背散射衍射技术的工作原理与菊池花样观察及标定315
　　实验九 电子背散射衍射技术的数据处理及其分析应用318
　　实验十 电子探针结构原理及分析方法321
　　附录324
　　附录A 物理常数324
　　附录B 质量吸收系数μl/ρ324
　　附录C 原子散射因数f325
　　附录D 各种点阵的结构因数F2HKL326
　　附录E 粉末法的多重性因数Phkl326
　　附录F 角因数1+cos22θsin2θcosθ327
　　附录G 德拜函数(x)x+14之值329
　　附录H 某些物质的特征温度Θ329
　　附录I 12cos2θsinθ+cos2θθ的数值330
　　附录J 应力测定常数332
　　附录K 立方系晶面间夹角333
　　附录L 常见晶体标准电子衍射花样336
　　附录M 立方与六方晶体可能出现的反射340
　　附录N 特征X射线的波长和能量表341
　　参考文献343

　　    周玉，1955年7月生。博士，教授，中国工程院院士。1982年1月～1989年3月获哈尔滨工业大学金属材料及工艺系学士、硕士和博士学位。曾留学于日本东京大学和英国利兹大学。现任哈尔滨工业大学教授、博士生导师、副校长。兼任中国机械工程学会理事；中国硅酸盐学会特陶分会理事长；国家自然基金委员会工程与材料学部专家咨询委员会委员；教育部学科发展与专业设置专家委员会委员：教育部高等学校教学指导委员会委员；全国工程教育专业认证专家委员会委员；中国高教学会常务理事等学术兼职。主要从事陶瓷的相变与韧化、陶瓷复合材料制备、组织结构与性能表征、抗热震与耐烧蚀性能及其在航天防热部件上应用等研究。发明了新型防热陶瓷复合材料，并成功应用于航天型号。获国家技术发明二等奖1项，省部级科技一、二等奖7项；获国家发明专利5项；出版专著及教材5部。获全国高校优秀教材一等奖1项，获国家优秀教学成果二等奖1项；发表SCI、EI收录主要学术论文300余篇。已培养博士、硕士各30余名。曾获国家杰出青年基金资助和国家“有突出贡献的中青年专家”、“中国青年科学家奖”、航天总公司“航天奖”等荣誉称号。
　　    2009年当选为中国工程院院士。

　　    《材料分析方法（第3版）》主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括：X射线物理学基础、X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法、物相分析及点阵参数精确测定、宏观残余应力的测定、多晶体织构的测定、电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、扫描电子显微镜、电子背散射衍射分析技术、电子探针显微分析、其他显微结构分析方法及实验指导。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
　　    《材料分析方法（第3版）》可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书，也可供材料成形及控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。