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软件缺陷模式与测试

软件缺陷模式与测试
作者:宫云战 等著
出版:科学出版社 2011.7
页数:268
定价:56.00 元
ISBN-13:9787030317261
ISBN-10:7030317262 去豆瓣看看 
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目 录内容简介
      基于缺陷模式的软件测试是21世纪初发展起来的一种新型软件测试技术,是高可信、大型及基础软件测试必备的方法之一,有强烈的工程需求,它以缺陷检测效率高、缺陷定位准确、自动化程度高、易学易用、与其他软件测试技术具有很好的互补性等特点,目前已逐步成为国际上主流的软件测试技术。《软件缺陷模式与测试》全面论述了基于缺陷模式软件测试的一般方法,包括软件缺陷的综合论述、面向C/C++/Java的软件缺陷模式的分类、各种软件缺陷模式的定义、基于缺陷模式的软件测试原理、提高测试精度的区间运算技术、敏感路径分析技术、函数间分析技术等。《软件缺陷模式与测试》是软件测试领域的专业书籍,可供从事软件测试技术工作的研究人员学习和参考。


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