X射线衍射技术及设备

　　1 X射线衍射基本原理
　　1.1 衍射计算中常用的晶体学表示方法
　　1.1.1 晶体、晶轴及晶面指数
　　1.1.2 倒易矢量及倒易点阵
　　1.1.3 反射球
　　1.1.4 晶系
　　1.1.5 晶体的对称性
　　1.1.6 点群
　　1.1.7 布拉维点阵
　　1.1.8 空间群
　　1.1.9 晶面间距的计算
　　1.1.10 晶带
　　1.2 原子对X射线的散射
　　1.2.1 单个自由电子对X射线的散射
　　1.2.2 n个电子的散射及复数计算法
　　1.2.3 一个原子的X射线的散射
　　1.3 小晶体的散射
　　1.3.1 小晶体的散射强度
　　1.3.2 三个劳厄方程式
　　1.3.3 布拉格衍射的结构因子
　　1.3.4 热振动对小晶体散射强度的影响
　　1.4 衍射线的积分强度
　　1.4.1 小单晶体衍射的积分强度
　　1.4.2 面积稍大的不完整晶体的积分强度
　　1.4.3 粉末样品衍射的积分强度
　　参考文献
　　2 现代X射线衍射仪系统及实验技术
　　2.1 概述
　　2.2 X射线源——种类及性能要求
　　2.2.1 X射线源的稳定性
　　2.2.2 X射线源的强度
　　2.2.3 光谱纯净度及单色性
　　2.2.4 X射线源的适用性
　　2.3 测角仪
　　2.3.1 测角仪结构及布拉格一布伦塔诺聚焦原理
　　2.3.2 狭缝系统及几何光学
　　2.3.3 测角仪的调整
　　2.4 探测器与记录系统
　　2.4.1 正比计数器
　　2.4.2 位置灵敏计数器
　　2.4.3 平面位敏计数器
　　2.4.4 闪烁计数器
　　2.4.5 Si(Li)半导体固态探测器
　　2.4.6 前置放大器和主放大器及脉冲成形器
　　2.4.7 单道脉冲分析器
　　2.4.8 多道脉冲分析器
　　2.4.9 定标器
　　2.4.10 速率计
　　2.4.11 探测器扫测方式及参数
　　2.4.12 X射线衍射能量色散测量
　　2.5 衍射仪的自动化
　　2.5.1 高压和管流的控制
　　2.5.2 测角仪自动调整，试样和狭缝的自动变换
　　2.5.3 自动测量、数据收集和处理
　　2.5.4 各种衍射应用程序和数据库
　　2.5.5 故障诊断的现代化
　　2.6 衍射仪考核检定及验收
　　2.6.1 衍射仪综合稳定度
　　2.6.2 高压及管流稳定度
　　2.6.3 测角仪测角准确度、重复精度及仪器分辨率
　　2.6.4 探测器的相对半高宽
　　2.6.5 计算机硬件
　　2.6.6 计算机软件和应用衍射软件
　　2.6.7 各种衍射仪附件
　　2.6.8 其它有关装置和附件
　　2.7 实验测量技术
　　2.7.1 实验参数的选择及其对粉末衍射花样的影响
　　2.7.2 强度、峰位、线形的测量
　　2.8 国内外一些厂家X射线衍射仪产品软、硬件简介
　　2.8.1 北京大学仪器厂产品BDX系列X射线衍射仪产品简介
　　2.8.2 德国布鲁克(BRUKER)AXS公司X射线衍射仪产品简介
　　2.8.3 荷兰飞利浦(Philips)公司X射线衍射仪产品简介
　　2.8.4 日本理学公司X射线衍射仪产品简介
　　2.9 衍射仪的选购、实验室注意事项及安全防护
　　2.9.1 衍射仪的选购
　　2.9.2 实验室注意事项
　　2.9.3 X射线安全防护
　　参考文献
　　3 定性相分析
　　3.1 引言
　　3.2 定性相分析的理论基础
　　3.3 粉末衍射文件PDF
　　3.3.1 粉末衍射文件(PDF)卡片的新老格式
　　3.4 JCPDS粉末衍射文件数据的磁盘、磁带及光盘
　　3.5 索引和检索手册
　　3.5.1 哈纳瓦特数值索引
　　3.5.2 芬克数值索引
　　3.5.3 字母索引
　　3.5.4 其他索引
　　3.6 定性相分析的一般步骤
　　3.6.1 制样
　　3.6.2 测量d和I值
　　3.6.3 手工检索未知相的PDF卡片
　　3.6.4 定性相分析的计算机自动检索
　　参考文献
　　4 定量相分析
　　4.1 引言
　　4.2 基本原理
　　4.3 外标法
　　4.3.1 各相为同素异构的多晶型物相组成的待测试样
　　4.3.2 待测试样中各相的质量吸收系数不同
　　4.4 内标法
　　4.5 基体冲洗法(K值法)
　　4.5.1 原理
　　4.5.2 K值的转换
　　4.5.3 K值法国家标准
　　4.6 绝热法
　　4.6.1 原理
　　4.6.2 Kij值的求法
　　4.6.3 绝热法的优缺点
　　4.7 直接比较法
　　4.7.1 原理
　　4.7.2 应用——残余奥氏体和钢材表层氧化铁体积分数的测定
　　4.7.3 Ri值的计算
　　4.8 无标法
　　4.8.1 原理
　　4.8.2 无标法的优缺点
　　4.9 国内定量相分析方法研究成果简介
　　4.9.1 联立方程法
　　4.9.2 普适无标法
　　4.9.3.回归求解法
　　4.9.4 最优化计算法
　　参考文献
　　5 线形分析方法
　　5.1 线形宽化分析的积分宽度法
　　5.2 Kα1及Kα2双重线的分离
　　5.3 线形近似函数的选择
　　5.4 从B。值求物理宽度β值
　　5.5 从β值进行亚晶细化宽度m及点阵畸变宽度n的分离
　　5.5.1 亚晶细化与线形宽化效应的关系——谢乐公式
　　5.5.2 点阵畸变与其宽化效应的关系
　　5.5.3 β与m及n的关系式
　　5.5.4 亚晶细化与点阵畸变宽化效应的图解分离法
　　5.5.5 伏格脱函数法
　　5.6 积分宽度法中的测算误差问题
　　5.6.1 谱线宽度测量对于物理宽度β的影响
　　5.6.2 M1及N1分离中的误差
　　5.6.3 实验条件的讨论
　　5.7 线形宽化分析的傅氏级数法
　　5.7.1 实测线形的傅氏级数展开法
　　5.7.2 粉末样品的衍射本领表达式
　　5.7.3 形变金属衍射谱线宽化傅氏级数分析法
　　5.8 傅氏级数法中亚晶细化与点阵畸变宽化的分离
　　5.8.1 傅氏系数的分离
　　5.8.2 Asn系数的诠释
　　5.8.3 “弯钩”效应问题
　　5.9 方差分析法
　　5.9.1 谱线方差的测定
　　5.9.2 亚晶细化引起的方差
　　5.9.3 点阵畸变引起的方差
　　……
　　6 曾错率及位错分布的测定
　　7 结构的测定
　　8 晶粒取向分布函数分析方法
　　9 宏观应力的测定
　　10 晶体点阵常数的精确测定
　　11 晶体定向
　　12 织构测定技术的应用举例
　　参考文献

　　    《X射线衍射技术及设备》介绍了晶体学和X射线衍射基本原理，现代衍射仪设备及实验技术，国内外厂家新近生产的衍射仪产品，以及常用X射线衍射方法等。编写时力求介绍国内外新的技术、方法、设备及其发展，也着眼于X射线衍射技术的实际应用与推广、普及。
　　    《X射线衍射技术及设备》除适合于X射线衍射技术应用工作者使用外，还适合于金属物理、金属学、材料、冶金、机械、地质、矿物、陶瓷、建材、化工、汽车、纺织、铁路、硅酸盐、环保、药物、耐火材料、高分子材料、考古、电子陶瓷等专业有关工程、科技人员和大专院校有关专业师生参考。