信号完整性测量技术

　　第1章 10G以上数字系统测量白皮书
　　1.1 前言
　　1.2 20GHz以上高速背板测量
　　1.3 供电网络PDN测量
　　1.4 20GHz以上serDes信号品质测量
　　1.5 工业标准总线标准一致性测量
　　1.6 3mV（pp）电源纹波测量
　　1.7 50fs时钟抖动测量
　　1.8 功率谱／功率电平／串扰等测量
　　1.9 小结
　　参考文献
　　第2章 示波器基础
　　2.1 背景
　　2.2 数字示波器硬件架构
　　2.3 示波器带宽和频响
　　2.4 模数转换器ADC的采样和波形重建
　　2.5 触发
　　2.6 波形参数测量
　　2.7 示波器探头技术
　　2.8 采样示波器原理
　　参考文献
　　第3章 抖动测量技术
　　3.1 背景简介
　　3.2 抖动的定义及与相位噪声和频率噪声的关系
　　3.3 周期抖动、周期间抖动和TIE
　　3.4 抖动成分的分解及各个抖动成分的特征和产生原因
　　3.5 使用浴盆曲线和双狄拉克模型预估总体抖动
　　3.6 高级抖动溯源分析方法
　　3.7 抖动传递函数及其测量
　　3.8 50fs级参考时钟抖动的测量技术
　　参考文献
　　第4章 眼图测量技术
　　4.1 眼图概念
　　4.2 眼图模板
　　4.3 眼图测试对仪器的要求
　　4.4 眼图测试中的时钟恢复
　　4.5 眼图参数的定义
　　4.6 有问题眼图的调试
　　参考文献
　　第5章 网络分析仪基础
　　5.1 网络分析基本概念
　　5.2 网络分析仪工作原理
　　5.3 网络分析仪测试误差及校准
　　5.4 校准的过程
　　参考文献
　　第6章 频谱分析仪基础
　　6.1 前言
　　6.2 快速傅里叶变换频谱分析仪
　　6.3 扫频式频谱分析仪工作原理
　　6.4 频谱分析仪关键性能指标
　　6.5 高阻抗探头
　　参考文献
　　第7章 PCB阻抗测量技术
　　7.1 PCB传输线的特征阻抗和差分阻抗
　　7.2 PcB阻抗和差分阻抗测试仪器和探头
　　7.3 基于采样示波器的TDR测量原理
　　7.4 基于网络分析仪的ENA-TDR测量原理
　　7.5 TDR测量仪器系统的校准
　　7.6 TDR分辨率的概念
　　7.7 PCB阻抗测量操作步骤
　　7.8 TDR测量仪器静电防护
　　参考文献
　　第8章 高速背板测量技术
　　8.1 高速背板设计挑战
　　8.2 高速背板测试概述
　　8.3 高速背板无源测试和分析：时域分析和频域分析
　　8.4 物理层测试系统
　　8.4 高速背板有源测试分析：眼图、抖动、码间干扰和均衡
　　8.5 高速背板测量中的校准
　　8.6 小结
　　参考文献
　　第9章 高速数字电缆测量技术
　　9.1 简要说明
　　9.2 常见工业标准及其电缆的概要简介
　　9.3 规范要求的测量参数和推荐的测试仪器
　　9.4 测试夹具和测试软件
　　9.5 高速数字电缆测试规范和测试连接图
　　参考文献
　　第10章 阻抗测量基础
　　10.1 阻抗测试基本概念
　　10.2 阻抗测量方法和原理
　　10.3 测试误差及校准和补偿
　　10.4 测试电缆和夹具
　　10.5 总结：成功测量阻抗的8点提示
　　参考文献
　　第11章 电源完整性测量技术
　　11.1 电源完整性测量对象和测量内容
　　11.2 开关电源工作原理
　　11.3 电源纹波和噪声测量
　　11.4 PDN输出阻抗和传输阻抗测量
　　11.5 消除电缆屏蔽层环路误差
　　11.6 校准过程和参考件
　　11.7 电路板系统级PDN测量
　　11.8 使用直流电压偏置测量旁路电容器
　　11.9 使用恒定交流信号电平测量旁路电容器
　　11.10 使用恒定交流电平和直流偏置进行MLCC测量的实例
　　11.11 使用直流电流偏置测量电感器
　　11.12 DC-DC转换器环路增益测量
　　11.13 总结
　　参考文献
　　第12章 误码仪基础
　　12.1 概述
　　12.2 误码的根源
　　12.3 误码测量
　　12.4 误码仪体系结构
　　12.5 误码仪的典型技术指标
　　12.6 误码仪信号测量和分析功能
　　参考文献
　　第13章 高速接口接收机测量技术
　　13.1 高速数字接口和总线接收性能测量的必要性
　　13.2 高速数字接口和总线接收性能测量自动化平台方案
　　13.3 PCIE2.0接收机测试
　　13.4 PCIE3.0接收机测试
　　13.5 LJSB3.0接收机测试
　　13.6 SATA接收机测试
　　13.7 I）isplayPort接收机测试
　　13.8 HI）MI接收机测试
　　13.9 MHL接收机测试
　　参考文献
　　第14章 信号完整性仿真分析技术
　　14.1 信号完整性仿真分析对象和必要性
　　14.2 信号完整性仿真分析平台方案和仿真流程
　　14.3 PCB版图分析与设计
　　14.4 芯片封装分析与设计
　　14.5 电源完整性分析和设计
　　14.6 电路分析与设计
　　14.7 系统设计与分析
　　14.8 SATA仿真分析
　　14.9 PCI-Express仿真分析
　　14.10 DDR仿真分析
　　14.11 高速背板仿真分析
　　14.12 与测试仪器连接
　　14.13 仿真分析结果的查看和分析
　　参考文献
　　第15章 如何建立信号完整性实验室
　　15.1 建立信号完整性实验室的必要性
　　15.2 信号完整性仿真分析工具
　　15.3 PCB和互连测试分析工具
　　15.4 高速信号测试分析工具
　　15.5 误码率和接收机测试分析工具
　　15.6 系统级总线测试分析工具
　　15.7 电源完整性测试分析工具
　　15.8 其他测试工具
　　15.9 小结
　　参考文献
　　第16章 如何搭建LVDS传输系统测量平台
　　16.1 概述
　　16.2 FPGA内部逻辑和并行接口测试
　　16.3 高速串行LVDS信号质量测试
　　16.4 高速互连电缆和PCB的阻抗测试
　　16.5 系统误码率测试
　　16.6 小结
　　参考文献
　　第17章 微波射频测试技术白皮书
　　17.1 微波技术发展的挑战
　　17.2 先进测试仪表的技术说明
　　17.3 小结
　　参考文献
　　后记

　　孙灯亮，1999年毕业于西安电子科技大学。2003年底加入安捷伦科技（中国）有限公司，负责电子测量仪器和方案的技术咨询工作。加入安捷伦之前曾在华为技术和联想电脑，负责技术研究和产品开发工作。

　　《信号完整性测量技术》从理论和实践的角度，综合介绍了信号完整性测量的相关专题。内容包括：高速信号测量技术（主要是抖动和眼图）；互连通道测量技术（主要是背板和电缆）；接收机测量技术（主要是工业标准接口和总线）；电源完整性测量技术（主要是供电网络和直流转换器）；信号完整性仿真技术（主要是信号完整性仿真要点和方法）五大部分内容。同时详细介绍了相关仪器的工作原理和技术要点，包括：数字示波器、矢量网络分析仪、频谱分析仪、阻抗分析仪、误码率分析仪。
　　《信号完整性测量技术》适合从事电子工程和通信工程领域的数字系统研发和测试的工作者，以及大专院校电子工程、通信工程、电子测量与仪器仪表等专业的师生参考。