调和测度:几何与分析的观点(影印版)

调和测度:几何与分析的观点(影印版)
作者:Luca,Capogna,,等 著; LUCA,CAPOGNA,CARLOS,E.,KENIG,AND 译
出版:高等教育出版社 2018.8
页数:155
定价:99.00 元
ISBN-13:9787040503074
ISBN-10:7040503077 去豆瓣看看 
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  几何测度论和调和分析的新近发展带来了相关领域一系列的发展。例如表现为“近似”于欧几里得体积的测度支集的正则性理论获得了深刻的结果,令人意想不到的是借助于该测度的渐进性,从而刻画了支集的平坦性特征,而这些特征引发了非光滑区域的调和测度的研究中重要的新进展。
  本书给出了此领域中全新研究成果的概览和介绍。本书内容基于 Carlos Kenig于 2000 年在Arkansas 大学的 Arkansas 春季系列讲座中…
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