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改性锗半导体物理
作者:
宋建军
出版:
西安电子科技大学出版社
2020.12
页数:
112
定价:
20.00 元
ISBN-13:
9787560659510
ISBN-10:
7560659519
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内容简介
本书共7章,主要介绍了改性锗半导体物理的相关内容,包括Ge带隙类型转变理论、改性锗半导体能带与迁移率理论、改性锗能带调制理论、改性锗半导体光学特性理论以及改性锗 MOS反型层能带与迁移率理论等。通过本书的学习,可为读者以后学习改性锗器件物理奠定重要的理论基础。
本书可作为高等院校微电子学与固体电子学专业研究生的参考书,也可供其他相关专业的学生参考。
内容简介
本书共7章,主要介绍了改性锗半导体物理的相关内容,包括Ge带隙类型转变理论、改性锗半导体能带与迁移率理论、改性锗能带调制理论、改性锗半导体光学特性理论以及改性锗 MOS反型层能带与迁移率理论等。通过本书的学习,可为读者以后学习改性锗器件物理奠定重要的理论基础。
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